İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
Strain tensor mapping at the n...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:
Wilkinson, A
,
Meaden, G
,
Dingley, D
Materyal Türü:
Journal article
Dil:
English
Baskı/Yayın Bilgisi:
2006
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Benzer Materyaller
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Yazar:: Wilkinson, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)
Strain mapping using electron backscatter diffraction
Yazar:: Wilkinson, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)
Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
Yazar:: Dingley, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
Yazar:: Wilkinson, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006)
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
Yazar:: Wilkinson, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2013)