Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Beaven, P
,
Miller, M
,
Williams, P
,
Delargy, K
,
Smith, G
Médium:
Journal article
Vydáno:
1980
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
PERFORMANCE AND APPLICATIONS OF AN IMAGING ATOM-PROBE
Autor: Miller, M, a další
Vydáno: (1979)
APPLICATIONS OF ATOM-PROBE MICROANALYSIS IN MATERIALS SCIENCE
Autor: Miller, M, a další
Vydáno: (1994)
FIM AND ATOM-PROBE STUDIES OF DEFECTS IN DOPED TUNGSTEN LAMP WIRES
Autor: Beaven, P, a další
Vydáno: (1979)
PROGRESS WITH FIM AND ATOM-PROBE INVESTIGATIONS OF NICKEL-BASED SUPER-ALLOYS
Autor: Delargy, K, a další
Vydáno: (1979)
Microanalysis at the atomic level
Autor: Pennycook, S, a další
Vydáno: (1995)