$Factors affecting the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction when using simulated patterns.$

Factors affecting the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction when using simulated patterns.

High resolution EBSD directly compares electron backscattering patterns (EBSPs), generated in a scanning electron microscope, to measure relative strain and rotation to a precision of ∼ 10(-4) in strain and 10(-4)rad (0.006 °) in rotation. However the measurement of absolute strain and rotation requ...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Britton, T, Maurice, C, Fortunier, R, Driver, J, Day, A, Meaden, G, Dingley, D, Mingard, K, Wilkinson, A
বিন্যাস:	Journal article
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	2010

অনুরূপ উপাদানগুলি

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2006)

High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: new levels of sensitivity.
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2006)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2009)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements.
অনুযায়ী: Tong, V, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2015)

Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
অনুযায়ী: Dingley, D, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements
অনুযায়ী: Tong, V, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2015)

Direct detection of electron backscatter diffraction patterns.
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Measurement of residual elastic strain and lattice rotations with high resolution electron backscatter diffraction.
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2011)

Analysis of dislocation densities using high resolution electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Vilalta-Clemente, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2015)

High resolution electron backscatter diffraction measurements of elastic strain variations in the presence of larger lattice rotations.
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2012)

High-resolution electron backscatter diffraction: an emerging tool for studying local deformation
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010)

Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2009)

Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2006)

Probing deformation and revealing microstructural mechanisms with cross-correlation-based, high-resolution electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Geometrically necessary dislocation densities in olivine obtained using high-angular resolution electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wallis, D, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2016)

Measurement of geometrically necessary dislocation density with high resolution electron backscatter diffraction: effects of detector binning and step size.
অনুযায়ী: Jiang, J, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

High-angular resolution electron backscatter diffraction as a new tool for mapping lattice distortion in geological minerals
অনুযায়ী: Wallis, D, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2019)

An iterative method for reference pattern selection in high-resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD)
অনুযায়ী: Koko, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2023)

Pattern matching analysis of electron backscatter diffraction patterns for pattern centre, crystal orientation and absolute elastic strain determination – accuracy and precision assessment
অনুযায়ী: Tanaka, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2019)

High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors
অনুযায়ী: Vilalta-Clemente, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2015)

Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (1997)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (2006)

THE MEASUREMENT OF LOCAL PLASTIC-DEFORMATION IN A METAL-MATRIX COMPOSITE BY ELECTRON BACKSCATTER PATTERNS
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (1993)

Rapid electron backscatter diffraction mapping: painting by numbers
অনুযায়ী: Tong, V, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2018)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 1: detector assessment.
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 2: experimental demonstration.
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - Part 2: Experimental demonstration
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Tetragonality of Fe-C martensite – a pattern matching electron backscatter diffraction analysis compared to X-ray diffraction
অনুযায়ী: Tanaka, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020)

In situ characterisation of the strain fields of intragranular slip bands in ferrite by high-resolution electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Koko, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2022)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Kamaya, M, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2005)

Electron backscatter diffraction study of dislocation content of a macrozone in hot-rolled Ti-6Al-4V alloy
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010)

Electron backscatter diffraction study of dislocation content of a macrozone in hot-rolled Ti-6Al-4V alloy
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010)

Adaptable physics-based super-resolution for electron backscatter diffraction maps
অনুযায়ী: Devendra K. Jangid, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2022-12-01)

High resolution electron backscatter diffraction study on the heterogeneities of tetragonal distortion in Fe-C martensite at the microstructural scale
অনুযায়ী: Tanaka, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020)

Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging
অনুযায়ী: Trager-Cowan, C, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2006)

Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging
অনুযায়ী: Trager-Cowan, C, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2006)

Electron backscatter diffraction in the silicon nanowires
অনুযায়ী: K.K. Dikhanbayev, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2016-10-01)