GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
Hoofdauteurs: | Decoteau, M, Wilshaw, P, Falster, R |
---|---|
Formaat: | Conference item |
Gepubliceerd in: |
1991
|
Gelijkaardige items
-
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
door: Decoteau, M, et al.
Gepubliceerd in: (1991) -
GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
door: Decoteau, M, et al.
Gepubliceerd in: (1992) -
PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
door: Decoteau, M, et al.
Gepubliceerd in: (1991) -
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
door: Decoteau, M, et al.
Gepubliceerd in: (1990) -
GETTERING IN SILICON
door: Falster, R
Gepubliceerd in: (1989)