GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS

GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS

Показати інші версії (1)

Бібліографічні деталі
Автори:	Decoteau, M, Wilshaw, P, Falster, R
Формат:	Conference item
Опубліковано:	1991

Схожі ресурси

GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
за авторством: Decoteau, M, та інші
Опубліковано: (1991)

GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
за авторством: Decoteau, M, та інші
Опубліковано: (1992)

PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
за авторством: Decoteau, M, та інші
Опубліковано: (1991)

GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
за авторством: Decoteau, M, та інші
Опубліковано: (1990)

GETTERING IN SILICON
за авторством: Falster, R
Опубліковано: (1989)

Cathodoluminescence assessment of low temperature gettering in silicon and a novel technique for estimating bulk minority carrier lifetime in silicon
за авторством: Fraser, K, та інші
Опубліковано: (2008)

Efficient, room-temperature, near-band gap luminescence by gettering in ion implanted silicon
за авторством: Stowe, D, та інші
Опубліковано: (2005)

Getters in silicon
за авторством: Vyacheslav A. Kharchenko
Опубліковано: (2019-03-01)

Oxygen precipitate studies in silicon for gettering in solar cell applications
за авторством: Salomon, Ashley
Опубліковано: (2018)

ELECTRON-BEAM-INDUCED ACTIVITY OF DEFECTS IN SILICON
за авторством: Wilshaw, P, та інші
Опубліковано: (1994)

Gettering defects in semiconductors /
за авторством: 386064 Perevostchikov V. A., та інші
Опубліковано: (2005)

Atom probe Tomography of fast-diffusing impurities and the effect of gettering in multicrystalline silicon
за авторством: Tweddle, D, та інші
Опубліковано: (2018)

Onset of slip in silicon containing oxide precipitates
за авторством: Jurkschat, K, та інші
Опубліковано: (2001)

High-Performance and Traditional Multicrystalline Silicon: Comparing Gettering Responses and Lifetime-Limiting Defects
за авторством: Ekstrom, Kai E., та інші
Опубліковано: (2018)

Exceptional gettering response of epitaxially grown kerfless silicon
за авторством: Markevich, V. P., та інші
Опубліковано: (2018)

EBIC INVESTIGATIONS OF DISLOCATIONS AND THEIR INTERACTIONS WITH IMPURITIES IN SILICON
за авторством: Fell, T, та інші
Опубліковано: (1993)

Detecting and gettering chromium impurities in photovoltaic crystalline silicon
за авторством: Jensen, Mallory Ann
Опубліковано: (2015)

Saw damage gettering for industrially relevant mc‐Si feedstock
за авторством: Shaw, E, та інші
Опубліковано: (2017)

Simulation of iron impurity gettering in crystalline silicon solar cells
за авторством: Powell, Douglas M. (Douglas Michael)
Опубліковано: (2012)

Porous silicon and aluminum co-gettering experiment in p-type multicrystalline silicon substrate
за авторством: P.N. Vinod
Опубліковано: (2007-01-01)

Improvement of charge carrier lifetime in heat exchange method multicrystalline silicon wafers by extended phosphorous gettering process
за авторством: D. Bouhafs, та інші
Опубліковано: (2011-12-01)

Methods and mechanisms of gettering of silicon structures in the production of integrated circuits
за авторством: Pilipenko V. A., та інші
Опубліковано: (2013-05-01)

Electron beam induced current investigations of transition metal impurities at extended defects in silicon
за авторством: Wilshaw, P, та інші
Опубліковано: (1995)

DLTS characterization of aluminum gettering of iron contaminants in boron-doped silicon
за авторством: Thienprasit, Jeanne A. (Jeanne Athya)
Опубліковано: (2005)

Effects of Phosphorus Diffusion on Gettering of Metal Impurities in UMG Silicon Wafers
за авторством: Sung Yean Yoon, та інші
Опубліковано: (2013-01-01)

The Physical mechanisms of gettering properties of nickel clusters in silicon solar cells
за авторством: Zoir Kenzhaev, та інші
Опубліковано: (2024-06-01)

Cathodoluminescence assessment of annealed silicon and a novel technique for estimating minority carrier lifetime in silicon
за авторством: Fraser, K, та інші
Опубліковано: (2009)

Transition metal gettering studies and simulation for the optimization of silicon photovoltaic device processing
за авторством: Smith, Aimée Louise, 1971-
Опубліковано: (2005)

Regularities of microdefect formation in silicon during heat treatment for internal getter synthesis
за авторством: Vladimir T. Bublik, та інші
Опубліковано: (2019-09-01)

Evaluation of Hydrogen Gettering Rates Correlated to Surface Composition and Texture of Nickel-Plated Zircaloy Getters of Different Heat Treatment Procedures
за авторством: Ewa C. E. Rönnebro, та інші
Опубліковано: (2023-01-01)

Effective lifetimes exceeding 300 μs in gettered p-type epitaxial kerfless silicon for photovoltaics
за авторством: Powell, D. M., та інші
Опубліковано: (2015)

The segregation behaviour of oxygen at dislocations in silicon
за авторством: Senkader, S, та інші
Опубліковано: (1999)

Locking of dislocations by oxygen in Cz-silicon
за авторством: Senkader, S, та інші
Опубліковано: (1999)

Finite- vs. infinite-source emitters in silicon photovoltaics: Effect on transition metal gettering
за авторством: Vahanissi, Ville, та інші
Опубліковано: (2018)

High resolution deep level transient spectroscopy applied to extended defects in silicon
за авторством: Evans-Freeman, J, та інші
Опубліковано: (2005)

Recombination at oxide precipitates in silicon
за авторством: Murphy, J, та інші
Опубліковано: (2011)

Generation of dislocation glide loops in Czochralski silicon
за авторством: Giannattasio, A, та інші
Опубліковано: (2002)

Dislocation locking by nitrogen impurities in FZ-silicon
за авторством: Giannattasio, A, та інші
Опубліковано: (2003)

On the mechanism of recombination at oxide precipitates in silicon
за авторством: Murphy, J, та інші
Опубліковано: (2013)

Oxygen-dislocation interactions in silicon at temperatures below 700 degrees C: Dislocation locking and oxygen diffusion
за авторством: Senkader, S, та інші
Опубліковано: (2001)