تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
GETTERING OF COPPER IN SILICON...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
عرض إصدارات أخرى (1)
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Decoteau, M
,
Wilshaw, P
,
Falster, R
التنسيق:
Conference item
منشور في:
1991
المقتنيات
الوصف
إصدارات أخرى (1)
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
حسب: Decoteau, M, وآخرون
منشور في: (1991)
GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
حسب: Decoteau, M, وآخرون
منشور في: (1992)
PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
حسب: Decoteau, M, وآخرون
منشور في: (1991)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
حسب: Decoteau, M, وآخرون
منشور في: (1990)
GETTERING IN SILICON
حسب: Falster, R
منشور في: (1989)