Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
GETTERING OF COPPER IN SILICON...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
Veure altres versions (1)
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Decoteau, M
,
Wilshaw, P
,
Falster, R
Format:
Conference item
Publicat:
1991
Fons
Descripció
Altra versió (1)
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
per: Decoteau, M, et al.
Publicat: (1991)
GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
per: Decoteau, M, et al.
Publicat: (1992)
PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
per: Decoteau, M, et al.
Publicat: (1991)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
per: Decoteau, M, et al.
Publicat: (1990)
GETTERING IN SILICON
per: Falster, R
Publicat: (1989)