Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
GETTERING OF COPPER IN SILICON...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
Näytä muut versiot (1)
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
Decoteau, M
,
Wilshaw, P
,
Falster, R
Aineistotyyppi:
Conference item
Julkaistu:
1991
Saatavuustiedot
Kuvaus
Muut versiot (1)
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
Tekijä: Decoteau, M, et al.
Julkaistu: (1991)
GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
Tekijä: Decoteau, M, et al.
Julkaistu: (1992)
PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
Tekijä: Decoteau, M, et al.
Julkaistu: (1991)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
Tekijä: Decoteau, M, et al.
Julkaistu: (1990)
GETTERING IN SILICON
Tekijä: Falster, R
Julkaistu: (1989)