Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy

অনুরূপ উপাদানগুলি

• Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
  অনুযায়ী: Dinelli, F, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (2000)
• Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
  অনুযায়ী: Kolosov, O, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1996)
• Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
  অনুযায়ী: Huey, B, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (2001)
• Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
  অনুযায়ী: Dinelli, F, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1999)
• Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
  অনুযায়ী: Dinelli, F, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1999)