Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Measurements of stiff-material...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Dinelli, F
,
Biswas, S
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
Médium:
Journal article
Vydáno:
2000
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Autor: Dinelli, F, a další
Vydáno: (2000)
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
Autor: Kolosov, O, a další
Vydáno: (1996)
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
Autor: Huey, B, a další
Vydáno: (2001)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
Autor: Dinelli, F, a další
Vydáno: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
Autor: Dinelli, F, a další
Vydáno: (1999)