Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Measurements of stiff-material...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Dinelli, F
,
Biswas, S
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
פורמט:
Journal article
יצא לאור:
2000
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
מאת: Dinelli, F, et al.
יצא לאור: (2000)
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
מאת: Kolosov, O, et al.
יצא לאור: (1996)
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
מאת: Huey, B, et al.
יצא לאור: (2001)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
מאת: Dinelli, F, et al.
יצא לאור: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
מאת: Dinelli, F, et al.
יצא לאור: (1999)