Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Measurements of stiff-material...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Dinelli, F
,
Biswas, S
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
Formaat:
Journal article
Gepubliceerd in:
2000
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
door: Dinelli, F, et al.
Gepubliceerd in: (2000)
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
door: Kolosov, O, et al.
Gepubliceerd in: (1996)
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
door: Huey, B, et al.
Gepubliceerd in: (2001)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
door: Dinelli, F, et al.
Gepubliceerd in: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
door: Dinelli, F, et al.
Gepubliceerd in: (1999)