Przejdź do treści
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Język
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Measurements of stiff-material...
Cytować
Wyślij wiadomość
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
Odnośnik bezpośredni
Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Opis bibliograficzny
Główni autorzy:
Dinelli, F
,
Biswas, S
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
Format:
Journal article
Wydane:
2000
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
Podobne zapisy
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
od: Dinelli, F, i wsp.
Wydane: (2000)
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
od: Kolosov, O, i wsp.
Wydane: (1996)
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
od: Huey, B, i wsp.
Wydane: (2001)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
od: Dinelli, F, i wsp.
Wydane: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
od: Dinelli, F, i wsp.
Wydane: (1999)