Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
Measurements of stiff-material...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Бібліографічні деталі
Автори:
Dinelli, F
,
Biswas, S
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
Формат:
Journal article
Опубліковано:
2000
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
за авторством: Dinelli, F, та інші
Опубліковано: (2000)
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
за авторством: Kolosov, O, та інші
Опубліковано: (1996)
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
за авторством: Huey, B, та інші
Опубліковано: (2001)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
за авторством: Dinelli, F, та інші
Опубліковано: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
за авторством: Dinelli, F, та інші
Опубліковано: (1999)