$Tetragonality of Fe-C martensite – a pattern matching electron backscatter diffraction analysis compared to X-ray diffraction$

Tetragonality of Fe-C martensite – a pattern matching electron backscatter diffraction analysis compared to X-ray diffraction

Measurements of the local tetragonality in Fe-C martensite at microstructural length-scale through pattern matching of electron backscatter diffraction patterns (EBSPs) and careful calibration of detector geometry are presented. It is found that the local tetragonality varies within the complex micr...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Tanaka, T, Maruyama, N, Nakamura, N, Wilkinson, AJ
Формат:	Journal article
Мова:	English
Опубліковано:	Elsevier 2020

Схожі ресурси

High resolution electron backscatter diffraction study on the heterogeneities of tetragonal distortion in Fe-C martensite at the microstructural scale
за авторством: Tanaka, T, та інші
Опубліковано: (2020)

Influence of Twinning Microstructure of Crystals with Low Tetragonality on a X-Ray Diffraction
за авторством: A. I. Ustinov, та інші
Опубліковано: (2001-03-01)

Direct detection of electron backscatter diffraction patterns.
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2013)

Microstrain distribution mapping on CuInSe2 thin films by means of electron backscatter diffraction, X-ray diffraction, and Raman microspectroscopy.
за авторством: Schäfer, N, та інші
Опубліковано: (2016)

Pattern matching analysis of electron backscatter diffraction patterns for pattern centre, crystal orientation and absolute elastic strain determination – accuracy and precision assessment
за авторством: Tanaka, T, та інші
Опубліковано: (2019)

Refinements for Bragg coherent X-ray diffraction imaging: electron backscatter diffraction alignment and strain field computation
за авторством: Yang, D, та інші
Опубліковано: (2022)

Calibration curve for quantitative analysis of the monoclinic-tetragonal ZrO2 system by x-ray diffraction/
за авторством: 495685 Toraya, Hideo, та інші

Strain mapping using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2009)

An iterative method for reference pattern selection in high-resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD)
за авторством: Koko, A, та інші
Опубліковано: (2023)

X-Ray diffraction.

X-ray diffraction/
за авторством: Azaroff, Leonid V.
Опубліковано: (1974)

X-ray diffraction /
за авторством: 205966 Warren, B. E.
Опубліковано: (1969)

The mechanism of Fe-rich intermetallic compound formation and growth on inoculants revealed by electron backscattered diffraction and X-ray imaging
за авторством: Feng, S, та інші
Опубліковано: (2023)

The mechanism of Fe-rich intermetallic compound formation and growth on inoculants revealed by electron backscattered diffraction and X-ray imaging
за авторством: Shikang Feng, та інші
Опубліковано: (2023-08-01)

Electron backscatter diffraction in the silicon nanowires
за авторством: K.K. Dikhanbayev, та інші
Опубліковано: (2016-10-01)

Resolving pseudosymmetry in tetragonal ZrO2 using electron backscatter diffraction with a modified dictionary indexing approach
за авторством: Pang, Edward L., та інші
Опубліковано: (2020)

Interpretation of X-ray powder diffraction patterns
за авторством: 391102 Lipson, Henry Solomon, та інші

ON THE PROBLEM OF MARTENSITE TETRAGONALITY NATURE
за авторством: I. N. Laptev, та інші
Опубліковано: (2017-10-01)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements.
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2015)

Investigation of surface residual stress profile on martensitic stainless steel weldment with X-ray diffraction
за авторством: I.I. Ahmed, та інші
Опубліковано: (2018-04-01)

Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1997)

SUBNANOSECOND X-RAY-POWDER DIFFRACTION
за авторством: Woolsey, N, та інші
Опубліковано: (1990)

X-Ray Diffraction and Microstructure of Tin Dioxide with Addition of Fe
за авторством: Posman Manurung
Опубліковано: (2013-01-01)

X-ray Diffraction Studies
за авторством: Warren, B. E.
Опубліковано: (2010)

X-ray Diffraction Studies
за авторством: Warren, B. E.
Опубліковано: (2010)

X-ray Diffraction Studies
за авторством: Warren, B. E., та інші
Опубліковано: (2010)

X-Ray Diffraction Studies
за авторством: Warren, B. E.
Опубліковано: (2010)

X-ray Diffraction Studies
за авторством: Warren, B. E.
Опубліковано: (2010)

X-ray Diffraction Studies
за авторством: Warren, B. E.
Опубліковано: (2010)

X-ray Diffraction Studies
за авторством: Warren, B. E.
Опубліковано: (2010)

X-ray Diffraction Studies
за авторством: Warren, B. E.
Опубліковано: (2010)

SUBPICOSECOND X-RAY-DIFFRACTION
за авторством: Wark, J, та інші
Опубліковано: (1994)

Elements of X-ray diffraction/
за авторством: 386239 Cullity, Bernard Dennis
Опубліковано: (1956)

Diffraction X-ray optics /
за авторством: 330455 Erko, A. I., та інші
Опубліковано: (1996)

Elements of x-ray diffraction /
за авторством: 386239 Cullity, Bernard Dennis
Опубліковано: (1978)

Ultrafast x-ray diffraction
за авторством: Sokolowski-Tinten, K, та інші
Опубліковано: (2005)

Elements of x-ray diffraction /
за авторством: 464330 Cullity, B. D., та інші
Опубліковано: (2001)

X-ray diffraction analysis /
за авторством: 446663 Rudman, Reuben, та інші
Опубліковано: (1967)

X-ray diffraction by polymers/
за авторством: 231135 Masao Kakudo, та інші
Опубліковано: (1972)

X-ray diffraction method/
за авторством: 231171 Nuffield, E. W.
Опубліковано: (1966)