Atom probe crystallography: characterization of grain boundary orientation relationships in nanocrystalline aluminium.

Atom probe crystallography: characterization of grain boundary orientation relationships in nanocrystalline aluminium.

Spatial Distribution Maps (SDM) in their various forms have previously been used to identify and characterize crystallographic structure within APT reconstructions. Importantly, it has been shown that such SDM analyses can also provide the crystallographic orientation of the specimen with respect to...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Moody, M, Tang, F, Gault, B, Ringer, S, Cairney, J
Định dạng:	Journal article
Ngôn ngữ:	English
Được phát hành:	2011

Những quyển sách tương tự

Atom probe crystallography
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2012)

Atom probe crystallography: Atomic-scale 3-D orientation mapping
Bằng: Araullo-Peters, V, et al.
Được phát hành: (2012)

Challenges Associated with the Characterisation of Nanocrystalline Materials using Atom Probe Tomography
Bằng: Tang, F, et al.
Được phát hành: (2010)

Atom Probe Microscopy /
Bằng: Gault, Baptiste author 632642, et al.
Được phát hành: (2012)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
Bằng: Jenkins, BM, et al.
Được phát hành: (2020)

Overcoming challenges in the study of nitrided microalloyed steels using atom probe.
Bằng: Xie, K, et al.
Được phát hành: (2012)

Dynamic reconstruction for atom probe tomography.
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2011)

Linking stress-driven microstructural evolution in nanocrystalline aluminium with grain boundary doping of oxygen
Bằng: Mo-Rigen He, et al.
Được phát hành: (2016-04-01)

Atom Probe Tomography at The University of Sydney
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2008)

Observations of grain boundary impurities in nanocrystalline Al and their influence on micro structural stability and mechanical behaviour
Bằng: Tang, F, et al.
Được phát hành: (2012)

Mining information from atom probe data
Bằng: Cairney, J, et al.
Được phát hành: (2015)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Bằng: Stephenson, LT, et al.
Được phát hành: (2011)

Applications of spatial distribution maps for advanced atom probe reconstruction and data analysis
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2009)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Bằng: Stephenson, LT, et al.
Được phát hành: (2010)

Grain boundary networks in nanocrystalline alloys from atom probe tomography quantization and autocorrelation mapping
Bằng: Chen, Ying, et al.
Được phát hành: (2016)

Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2010)

Influence of the wavelength on the spatial resolution of pulsed-laser atom probe
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2011)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2009)

Estimation of the reconstruction parameters for atom probe tomography
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2008)

Qualification of the tomographic reconstruction in atom probe by advanced spatial distribution map techniques.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2009)

Spatial resolution in atom probe tomography.
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2010)

On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography
Bằng: Zheng, R, et al.
Được phát hành: (2009)

Computational simulation of grain boundary segregation of solute atoms in nanocrystalline metals
Bằng: Liang Zhang, et al.
Được phát hành: (2022-11-01)

Lattice rectification in atom probe tomography: toward true three-dimensional atomic microscopy.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2011)

Theory of solute clustering in materials for atom probe
Bằng: Stephenson, LT, et al.
Được phát hành: (2011)

Statistical tools for the local electrode atom probe
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2006)

Spatial decomposition of molecular ions within 3D atom probe reconstructions.
Bằng: Breen, A, et al.
Được phát hành: (2013)

Advances in the calibration of atom probe tomographic reconstruction
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2009)

Crystallographic structural analysis in atom probe microscopy via 3D Hough transformation.
Bằng: Yao, L, et al.
Được phát hành: (2011)

Restoring the lattice of Si-based atom probe reconstructions for enhanced information on dopant positioning.
Bằng: Breen, A, et al.
Được phát hành: (2015)

Preliminary interface characterisation of Cold Sprayed copper on aluminium
Bằng: Ceguerra, A, et al.
Được phát hành: (2007)

Tomographic Reconstruction in Atom Probe Microscopy: Past, Present ... Future?
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2009)

Introduction: Special issue on atom probe tomography
Bằng: Ringer, S, et al.
Được phát hành: (2007)

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2010)

Contingency table techniques for three dimensional atom probe tomography.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2007)

3D nanostructural characterisation of grain boundaries in atom probe data utilising machine learning methods.
Bằng: Ye Wei, et al.
Được phát hành: (2019-01-01)

Atom probe microscopy investigation of Mg site occupancy within delta ' precipitates in an Al-Mg-Li alloy
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2012)

Quantitative binomial distribution analyses of nanoscale like-solute atom clustering and segregation in atom probe tomography data.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2008)

A three-dimensional Markov field approach for the analysis of atomic clustering in atom probe data
Bằng: Ceguerra, A, et al.
Được phát hành: (2010)

Interpreting atom probe data from oxide-metal interfaces
Bằng: McCarroll, I, et al.
Được phát hành: (2018)