Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM

This paper describes recent developments in the experimental methods of atom probe field ion microscopy, and in particular the means for the three-dimensional reconstruction of the atomic chemistry of solids. A selection of applications is presented, involving the study of grain boundary and interfa...

Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:	Smith, G, Cerezo, A, Godfrey, T, Seto, K, Warren, P
Materyal Türü:	Conference item
Baskı/Yayın Bilgisi:	1998

Benzer Materyaller

A FIM ATOM PROBE STUDY OF VANADIUM OXIDATION
Yazar:: Setna, R, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

THE FIM100 - PERFORMANCE OF A COMMERCIAL ATOM PROBE SYSTEM
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1984)

Automobile exhaust catalysis at the atomic scale: atom-probe investigations on platinum alloys
Yazar:: Bagot, P, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Three-dimensional atomic scale analysis of interfaces
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)

Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)

FIM AND ATOM-PROBE STUDIES OF DEFECTS IN DOPED TUNGSTEN LAMP WIRES
Yazar:: Beaven, P, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1979)

Applications of a high-resolution three dimensional atom probe
Yazar:: Smith, G, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1997)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2001)

A FIM/ATOM-PROBE STUDY OF PHASE-TRANSFORMATIONS IN MOLYBDENUM STEELS
Yazar:: Stark, I, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1987)

LATERAL AND DEPTH SCALE CALIBRATION OF THE POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE
Yazar:: Hyde, J, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)

PROGRESS WITH FIM AND ATOM-PROBE INVESTIGATIONS OF NICKEL-BASED SUPER-ALLOYS
Yazar:: Delargy, K, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1979)

AN FIM-ATOM PROBE AND TEM STUDY OF ALNICO PERMANENT MAGNETIC MATERIAL
Yazar:: Cowley, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1986)

Grain boundary segregation in boron added interstitial free steels studied by 3-dimensional atom probe
Yazar:: Seto, K, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)

AN ELECTRONIC AND COMPUTER-SYSTEM FOR AN AUTOMATED ATOM PROBE
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1984)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
Yazar:: Sijbrandij, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1996)

IMPROVEMENTS IN 3-DIMENSIONAL ATOM-PROBE DESIGN
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)

DEVELOPMENT AND INITIAL APPLICATIONS OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1988)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1988)

An atom probe study of the distribution of rhenium in a nickel-based superalloy
Yazar:: Warren, P, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

ATOM PROBE ANALYSIS AND MODELING OF INTERFACES IN MAGNETIC MULTILAYERS
Yazar:: Petfordlong, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1992)

NEW DIMENSIONS IN ATOM-PROBE ANALYSIS
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1992)

Design of a scanning atom probe with improved mass resolution
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2000)

An atom probe study of fine scale structure in AlMgSi(Cu) alloys
Yazar:: Vaumousse, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2002)

RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
Yazar:: Smith, G, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)

THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE - RECONSTRUCTION OF THE ATOMIC CHEMISTRY OF SOLIDS IN 3-DIMENSIONS (SUMMARY)
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1991)

Atomic scale study of precipitate/matrix interfaces in a metallic alloy
Yazar:: Rozdilsky, I, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)

3-D atom probe studies of some nanostructured materials
Yazar:: Warren, P, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2000)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
Yazar:: Jenkins, BM, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2020)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1985)

Materials applications of an advanced 3-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1996)

STATISTICAL-ANALYSIS OF ATOM PROBE DATA
Yazar:: Hetherington, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1986)

Atomic scale characterization of buried In(x)Ga(1-x)As quantum dots using pulsed laser atom probe tomography
Yazar:: Mueller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

PERFORMANCE AND APPLICATIONS OF AN IMAGING ATOM-PROBE
Yazar:: Miller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1979)

IMPROVEMENTS IN THE TRANSMISSION OF VOLTAGE EVAPORATION PULSES IN THE ATOM-PROBE
Yazar:: Sijbrandij, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1995)

Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)

Optimisation of a scanning atom probe with improved mass resolution using post deceleration.
Yazar:: Grennan-Heaven, N, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

ATOMIC RESOLUTION OF SURFACES IN THE ATOM PROBE
Yazar:: Smith, G
Baskı/Yayın Bilgisi: (1981)

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)