APPLICATION OF POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE STUDY OF THE MICROCHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF QUANTUM WELL INTERFACES

APPLICATION OF POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE STUDY OF THE MICROCHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF QUANTUM WELL INTERFACES

The morphology and microchemistry of interfaces in GaInAs/InP quantum well structures have been studied with extremely high resolution by the new technique of position sensitive atom probe microanalysis. This letter presents some preliminary results demonstrating the power of the technique in determ...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Liddle, J, Norman, A, Cerezo, A, Grovenor, C
التنسيق:	Journal article
اللغة:	English
منشور في:	1989

مواد مشابهة

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE AND STEM ANALYSIS OF THE MICROCHEMISTRY OF GAINAS/INP QUANTUM WELLS
حسب: Liddle, J, وآخرون
منشور في: (1989)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE ANALYSIS OF THE CHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTI-QUANTUM-WELL STRUCTURES
حسب: Liddle, J, وآخرون
منشور في: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1989)

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1989)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1989)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF TERNARY AND QUATERNARY III-V EPITAXIAL LAYERS
حسب: Liddle, J, وآخرون
منشور في: (1988)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1992)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1987)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
حسب: Mackenzie, R, وآخرون
منشور في: (1990)

DEVELOPMENT AND INITIAL APPLICATIONS OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1988)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1988)

STRUCTURAL-ANALYSIS WITH THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
حسب: Hetherington, M, وآخرون
منشور في: (1992)

3-DIMENSIONAL VISUALIZATION OF SEMICONDUCTOR MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
حسب: Mackenzie, R, وآخرون
منشور في: (1991)

3-DIMENSIONAL VISUALIZATION OF SEMICONDUCTOR MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
حسب: Mackenzie, R, وآخرون
منشور في: (1991)

Three dimensional visualization of semiconductor multi-quantum well interfaces
حسب: Mackenzie, R, وآخرون
منشور في: (1991)

THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE - RECONSTRUCTION OF THE ATOMIC CHEMISTRY OF SOLIDS IN 3-DIMENSIONS (SUMMARY)
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1991)

RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
حسب: Smith, G, وآخرون
منشور في: (1994)

3D atom probe analysis of quantum well and quantum dot materials
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (2007)

1990 BURCH,C.R. PRIZE - JOINT AWARD - THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
حسب: Cerezo, A
منشور في: (1991)

LATERAL AND DEPTH SCALE CALIBRATION OF THE POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE
حسب: Hyde, J, وآخرون
منشور في: (1994)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1990)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1990)

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM
حسب: Smith, G, وآخرون
منشور في: (1998)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1986)

ATOM PROBE ANALYSIS AND MODELING OF INTERFACES IN MAGNETIC MULTILAYERS
حسب: Petfordlong, A, وآخرون
منشور في: (1992)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1983)

INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1983)

ATOM PROBE ANALYSIS OF A CERAMIC OXIDE SUPERCONDUCTOR
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1988)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1986)

ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF LOW-TEMPERATURE OXIDES ON (100) SILICON AND GALLIUM-ARSENIDE SURFACES
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1989)

ATOMIC SCALE CHEMISTRY OF CO- AND NI-SI(100) INTERFACES
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1991)

ATOMIC SCALE CHEMISTRY OF CO- AND NI-SI(100) INTERFACES
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1991)

ULTRAHIGH RESOLUTION CHARACTERIZATION OF COMPOUND SEMICONDUCTORS USING PULSED LASER ATOM PROBE TECHNIQUES
حسب: Mackenzie, R, وآخرون
منشور في: (1991)

Otolith microchemistry and diadromy in Patagonian river fishes
حسب: Dominique Alò, وآخرون
منشور في: (2019-01-01)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF OMEGA AND THETA' PRECIPITATES IN AL-CU-MG-AG ALLOYS
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE STUDY OF THE DECOMPOSITION OF A CU-2.6AT-PERCENT-CO ALLOY
حسب: Setna, R, وآخرون
منشور في: (1993)