Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Effects of surface relaxation...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Wilkinson, A
,
Hirsch, P
,
Czernuszka, J
,
Long, N
Formaat:
Conference item
Gepubliceerd in:
1994
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
THE EFFECTS OF SURFACE STRESS-RELAXATION ON ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGES OF DISLOCATIONS
door: Wilkinson, A, et al.
Gepubliceerd in: (1995)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
door: Czernuszka, J, et al.
Gepubliceerd in: (1991)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS
door: Wilkinson, A, et al.
Gepubliceerd in: (1993)
Multiple scattering simulation of electron channelling contrast images of dislocations at interfaces
door: Dudarev, S, et al.
Gepubliceerd in: (1995)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
door: Czernuszka, J, et al.
Gepubliceerd in: (1991)