Song, X., Yeap, K., Zhu, J., Belnoue, J., Sebastiani, M., Bemporad, E., . . . Korsunsky, A. (2012). Residual stress measurement in thin films at sub-micron scale using Focused Ion Beam milling and imaging.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Song, X., K. Yeap, J. Zhu, J. Belnoue, M. Sebastiani, E. Bemporad, K. Zeng, và A. Korsunsky. Residual Stress Measurement in Thin Films at Sub-micron Scale Using Focused Ion Beam Milling and Imaging. 2012.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Song, X., et al. Residual Stress Measurement in Thin Films at Sub-micron Scale Using Focused Ion Beam Milling and Imaging. 2012.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.