Residual stress measurement in thin films at sub-micron scale using Focused Ion Beam milling and imaging

Схожі ресурси

• Residual stress measurement in thin films at sub-micron scale using Focused Ion Beam milling and imaging
  за авторством: Song, X, та інші
  Опубліковано: (2012)
• Residual stress measurement in thin films using the semi-destructive ring-core drilling method using Focused Ion Beam
  за авторством: Song, X, та інші
  Опубліковано: (2011)
• Focused ion beam four-slot milling for Poisson's ratio and residual stress evaluation at the micron scale
  за авторством: Sebastiani, M, та інші
  Опубліковано: (2014)
• Focused ion beam four-slot milling for Poisson's ratio and residual stress evaluation at the micron scale
  за авторством: Sebastiani, M, та інші
  Опубліковано: (2014)
• Focused ion beam ring drilling for residual stress evaluation
  за авторством: Korsunsky, A, та інші
  Опубліковано: (2009)