Residual stress measurement in thin films at sub-micron scale using Focused Ion Beam milling and imaging

Նմանատիպ նյութեր

• Residual stress measurement in thin films at sub-micron scale using Focused Ion Beam milling and imaging
  ‌: Song, X, և այլն
  Հրապարակվել է: (2012)
• Residual stress measurement in thin films using the semi-destructive ring-core drilling method using Focused Ion Beam
  ‌: Song, X, և այլն
  Հրապարակվել է: (2011)
• Focused ion beam four-slot milling for Poisson's ratio and residual stress evaluation at the micron scale
  ‌: Sebastiani, M, և այլն
  Հրապարակվել է: (2014)
• Focused ion beam four-slot milling for Poisson's ratio and residual stress evaluation at the micron scale
  ‌: Sebastiani, M, և այլն
  Հրապարակվել է: (2014)
• Focused ion beam ring drilling for residual stress evaluation
  ‌: Korsunsky, A, և այլն
  Հրապարակվել է: (2009)