Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Išči
Napredno
ON THE FORMATION OF BRIGHT EBI...
Citiraj
Pošljite SMS
Pošljite email
Natisni
Izvozi zadetek
Izvozi v RefWorks
Izvozi v EndNoteWeb
Izvozi v EndNote
Permanent link
ON THE FORMATION OF BRIGHT EBIC CONTRASTS AT CRYSTAL DEFECTS
Bibliografske podrobnosti
Main Authors:
Blumtritt, H
,
Kittler, M
,
Seifert, W
Format:
Conference item
Izdano:
1989
Zaloga
Opis
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Podobne knjige/članki
EBIC CONTRAST OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS
od: Wilshaw, P, et al.
Izdano: (1991)
THEORETICAL INVESTIGATIONS OF COMBINED CL AND EBIC MEASUREMENTS ON CRYSTAL DEFECTS
od: Hildebrandt, S, et al.
Izdano: (1989)
Junction depth & defect characterization with the use of EBIC
od: Phua, Poh Chin.
Izdano: (2008)
MEASUREMENT OF CONTRAST FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS BY LOCK-IN EBIC
od: Ourmazd, A, et al.
Izdano: (1982)
TEMPERATURE DEPENDENCE OF EBIC CONTRAST FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS IN SILICON.
od: Ourmazd, A, et al.
Izdano: (1983)