Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
Ultrafast x-ray measurement of...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
Ultrafast x-ray measurement of laser heating in semiconductors: Parameters determining the melting threshold
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Cavalleri, A
,
Siders, C
,
Rose-Petruck, C
,
Jimenez, R
,
Toth, C
,
Squier, J
,
Barty, C
,
Wilson, K
,
Sokolowski-Tinten, K
,
von Hoegen, M
,
von der Linde, D
Định dạng:
Journal article
Được phát hành:
2001
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
Direct observation of ultrafast non-thermal melting by ultrafast x-ray diffraction
Bằng: Siders, C, et al.
Được phát hành: (2001)
Detection of nonthermal melting by ultrafast X-ray diffraction.
Bằng: Siders, C, et al.
Được phát hành: (1999)
Ultrafast movies of atomic motion with femtosecond laser-based x-rays
Bằng: Siders, C, et al.
Được phát hành: (1999)
Transient lattice dynamics in fs-laser-excited semiconductors probed by ultrafast X-ray diffraction
Bằng: Sokolowski-Tinten, K, et al.
Được phát hành: (2001)
Femtosecond x-ray measurement of ultrafast melting and large acoustic transients
Bằng: Sokolowski-Tinten, K, et al.
Được phát hành: (2001)