Ultrafast x-ray measurement of laser heating in semiconductors: Parameters determining the melting threshold

Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:	Cavalleri, A, Siders, C, Rose-Petruck, C, Jimenez, R, Toth, C, Squier, J, Barty, C, Wilson, K, Sokolowski-Tinten, K, von Hoegen, M, von der Linde, D
Médium:	Journal article
Vydáno:	2001

Podobné jednotky