Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
COMMENTS ON GRAIN-BOUNDARY CON...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
COMMENTS ON GRAIN-BOUNDARY CONTRAST IN FIELD-ION MICROSCOPE IMAGES .1.
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Smith, D
,
Smith, G
Formaat:
Journal article
Gepubliceerd in:
1973
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Omschrijving
Samenvatting:
Gelijkaardige items
Some aspects of image projection in the field-ion microscope
door: Cerezo, A, et al.
Gepubliceerd in: (1999)
ANALOG INVESTIGATIONS OF ELECTRIC-FIELD DISTRIBUTION AND ION TRAJECTORIES IN FIELD-ION MICROSCOPE
door: Birdseye, P, et al.
Gepubliceerd in: (1974)
FRACTURE OF FIELD-ION MICROSCOPE SPECIMENS
door: Wilkes, T, et al.
Gepubliceerd in: (1972)
Simulation of channeling contrast in scanning ion microscope images
door: Kaoru Ohya
Gepubliceerd in: (2018-01-01)
FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
door: Bhatti, A, et al.
Gepubliceerd in: (1985)