COMMENTS ON GRAIN-BOUNDARY CONTRAST IN FIELD-ION MICROSCOPE IMAGES .1.

COMMENTS ON GRAIN-BOUNDARY CONTRAST IN FIELD-ION MICROSCOPE IMAGES .1.

Бібліографічні деталі
Автори:	Smith, D, Smith, G
Формат:	Journal article
Опубліковано:	1973

Схожі ресурси

Some aspects of image projection in the field-ion microscope
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1999)

ANALOG INVESTIGATIONS OF ELECTRIC-FIELD DISTRIBUTION AND ION TRAJECTORIES IN FIELD-ION MICROSCOPE
за авторством: Birdseye, P, та інші
Опубліковано: (1974)

FRACTURE OF FIELD-ION MICROSCOPE SPECIMENS
за авторством: Wilkes, T, та інші
Опубліковано: (1972)

Simulation of channeling contrast in scanning ion microscope images
за авторством: Kaoru Ohya
Опубліковано: (2018-01-01)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
за авторством: Bhatti, A, та інші
Опубліковано: (1985)

SOME ASPECTS OF THE MEASUREMENT OF PRECIPITATE SIZE IN THE FIELD-ION MICROSCOPE
за авторством: Sha, W, та інші
Опубліковано: (1991)

ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON
за авторством: King, R, та інші
Опубліковано: (1995)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
за авторством: Huang, M, та інші
Опубліковано: (1994)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM-SILICIDE-COATED SILICON EMITTERS
за авторством: King, R, та інші
Опубліковано: (1995)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS
за авторством: King, R, та інші
Опубліковано: (1994)

PHASE-CONTRAST IMAGING OF TISSUE IN THE SCANNING ACOUSTIC MICROSCOPE
за авторством: Daft, C, та інші
Опубліковано: (1985)

Response to Comments on Paper on Grain Boundary Scattering Model for Metals
за авторством: F. Warkusz
Опубліковано: (1981-01-01)

SEGREGATION TO GRAIN BOUNDARIES IN Si.
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1984)

AS SEGREGATION TO GRAIN-BOUNDARIES IN SI
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1984)

Characterization and modeling of nanotips fabricated in the field ion microscope
за авторством: Ali Ahmed, та інші
Опубліковано: (2016-06-01)

Three-Dimensional Imaging of Metallic Grain by Stacking the Microscopic Images
за авторством: Jinyi Lee, та інші
Опубліковано: (2021-08-01)

Detection and Recognition of Pollen Grains in Multilabel Microscopic Images
за авторством: Elżbieta Kubera, та інші
Опубліковано: (2022-03-01)

GRAIN-SIZE STRENGTHENING IN STEEL AND ITS RELATIONSHIP TO GRAIN-BOUNDARY SEGREGATION OF CARBON
за авторством: Mintz, B, та інші
Опубліковано: (1992)

Microscopic-plastic deformation behavior of grain boundary precipitates in an Al–Zn–Mg alloy
за авторством: Sangyul Ha, та інші
Опубліковано: (2024-05-01)

Differentiating grain and grain boundary ionic conductivities of Li-ion antiperovskite electrolytes
за авторством: Jingfeng Zheng, та інші
Опубліковано: (2022-11-01)

NUCLEATION AND MIGRATION OF HIGH ANGLE GRAIN-BOUNDARIES IN BILAYER FOILS .1. NUCLEATION
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1980)

Applications of scanning ion conductance microscope in biomedical fields
за авторством: Xinrui Gong, та інші
Опубліковано: (2023-03-01)

CHEMICAL EFFECTS ON GRAIN BOUNDARY MIGRATION IN Si AND Ge.
за авторством: Smith, D, та інші
Опубліковано: (1986)

FIM-TEM OBSERVATIONS OF GRAIN-BOUNDARY STRUCTURE
за авторством: Beaven, P, та інші
Опубліковано: (1980)

Development of high throughput microscope mode secondary ion mass spectrometry imaging
за авторством: Green, FM, та інші
Опубліковано: (2023)

Ion microscope imaging mass spectrometry using a Timepix3-based optical camera
за авторством: Wood, D, та інші
Опубліковано: (2022)

Microscopic model of electric-field-noise heating in ion traps
за авторством: Safavi-Naini, Arghavan, та інші
Опубліковано: (2011)

Contrasting the grain boundary-affected performance of zinc and indium oxide transparent conductors
за авторством: Vai, A, та інші
Опубліковано: (2016)

Li-ion conductivity in Li2OHCl1-xBrx solid electrolytes: grains, grain boundaries and interfaces
за авторством: Lee, HJ, та інші
Опубліковано: (2022)

Z-contrast Imaging in an Aberration-corrected Scanning Transmission Electron Microscope.
за авторством: Pennycook, S, та інші
Опубліковано: (2000)

GRAIN-BOUNDARY SOLUTE INTERACTIONS IN POLYCRYSTALLINE SILICON AND GERMANIUM
за авторством: Smith, D, та інші
Опубліковано: (1984)

Interaction of the solute niobium or molybdenum with grain boundaries in alpha-iron
за авторством: Maruyama, N, та інші
Опубліковано: (2003)

STRUCTURAL AND ELECTRICAL EFFECTS OF DOPANT SEGREGATION TO SILICON GRAIN-BOUNDARIES
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1985)

MALDI and SIMS microscope mode imaging mass spectrometry
за авторством: Smith, N
Опубліковано: (2023)

Fine-Grained Boundary Conditions in Field-Based Routing
за авторством: Jihoon Sung, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)

Automated morphometry toolbox for analysis of microscopic model organisms using simple bright-field imaging
за авторством: Guanghui Liu, та інші
Опубліковано: (2019-03-01)

Grain Boundary Chemistry Before and After Ion Implantation in ODS Steels
за авторством: Marquis, E, та інші
Опубліковано: (2009)

Remote-mode microsphere nano-imaging: new boundaries for optical microscopes
за авторством: Chen Lianwei, та інші
Опубліковано: (2018-01-01)

A miniature multi-contrast microscope for functional imaging in freely behaving animals
за авторством: Janaka Senarathna, та інші
Опубліковано: (2019-01-01)

A dataset for automatic contrast enhancement of microscopic malaria infected blood RGB images
за авторством: J. Somasekar, та інші
Опубліковано: (2019-12-01)