Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
Structural and electronic prop...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
Structural and electronic properties of an abrupt 4H-SiC(0001)/SiO2 interface model: Classical molecular dynamics simulations and density functional calculations
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Devynck, F
,
Giustino, F
,
Broqvist, P
,
Pasquarello, A
Format:
Journal article
Udgivet:
2007
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Beskrivelse
Summary:
Lignende værker
Abrupt model interface for the 4H(1000)SiC-SiO2 interface
af: Devynck, F, et al.
Udgivet: (2005)
Atomistic model of the 4H(0001)SiC-SiO2 interface: structural and electronic properties
af: Devynck, F, et al.
Udgivet: (2007)
Atomistic model of the 4H(0001)SiC-SiO2 interface: Structural and electronic properties
af: Devynck, F, et al.
Udgivet: (2007)
Atomic-scale modelling of the Si(100)-SiO(2) interface
af: Giustino, F, et al.
Udgivet: (2005)
Electronic structure at realistic Si(100)-SiO2 interfaces
af: Giustino, F, et al.
Udgivet: (2004)