Léim chuig an ábhar
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Teanga
Gach réimse
Teideal
Údar
Ábhar
Gairmuimhir
ISBN/ISSN
Clib
AIMSIGH
CASTA
Structural and electronic prop...
Luaigh é seo
Seol mar théacs é seo
Seol é seo mar r-phost
Priontáil
Easpórtáil taifead
Easpórtáil chuig RefWorks
Easpórtáil chuig EndNoteWeb
Easpórtáil chuig EndNote
Buan-nasc
Structural and electronic properties of an abrupt 4H-SiC(0001)/SiO2 interface model: Classical molecular dynamics simulations and density functional calculations
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoirí:
Devynck, F
,
Giustino, F
,
Broqvist, P
,
Pasquarello, A
Formáid:
Journal article
Foilsithe / Cruthaithe:
2007
Stoc
Cur síos
Míreanna comhchosúla
Amharc foirne
Cur síos
Achoimre:
Míreanna comhchosúla
Abrupt model interface for the 4H(1000)SiC-SiO2 interface
de réir: Devynck, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2005)
Atomistic model of the 4H(0001)SiC-SiO2 interface: structural and electronic properties
de réir: Devynck, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2007)
Atomistic model of the 4H(0001)SiC-SiO2 interface: Structural and electronic properties
de réir: Devynck, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2007)
Atomic-scale modelling of the Si(100)-SiO(2) interface
de réir: Giustino, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2005)
Electronic structure at realistic Si(100)-SiO2 interfaces
de réir: Giustino, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2004)