Probing graphene defect kinetics at millisecond time resolution using direct detection and machine learning

מידע ביבליוגרפי
Main Authors:	Huang, C, Allen, C, Skowron, S, Lobato, I, Sasaki, T, Van Aert, S, Besley, E, Kirkland, A
פורמט:	Conference item
שפה:	English
יצא לאור:	Oxford University Press 2022

פריטים דומים