Misfit dislocations generated from inhomogeneous sources and their critical thicknesses in a InGaAs/GaAs heterostructure grown by molecular beam epitaxy

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Zou, J, Cockayne, D, RussellHarriott, J
التنسيق:	Journal article
منشور في:	1997

مواد مشابهة