Hard X-ray ptychography for optics characterization using a partially coherent synchrotron source

Ptychography is a scanning coherent diffraction imaging technique which provides high resolution imaging and complete spatial information of the complex electric field probe and sample transmission function. Its ability to accurately determine the illumination probe has led to its use at modern sync...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Moxham, TEJ, Parsons, A, Zhou, T, Alianelli, L, Wang, H, Laundy, D, Dhamgaye, V, Fox, OJL, Sawhney, K, Korsunsky, AM
Ձևաչափ: Journal article
Լեզու:English
Հրապարակվել է: International Union of Crystallography 2020