Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
CRYSTAL DEFECT IMAGING USING T...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
CRYSTAL DEFECT IMAGING USING TRANSMISSION ION CHANNELING
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
King, P
,
Breese, M
,
Wilshaw, P
,
Booker, G
,
Grime, G
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
1994
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
TRANSMISSION ION CHANNELING IMAGES OF CRYSTAL DEFECTS
ανά: King, P, κ.ά.
Έκδοση: (1995)
IMAGING OF DEEP DEFECTS USING TRANSMISSION ION CHANNELING
ανά: King, P, κ.ά.
Έκδοση: (1995)
Defect imaging and channeling studies using channeling scanning transmission ion microscopy
ανά: King, P, κ.ά.
Έκδοση: (1996)
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFECTS USING ION CHANNELING
ανά: King, P, κ.ά.
Έκδοση: (1993)
Stacking-fault imaging using transmission ion channeling.
ανά: King, P, κ.ά.
Έκδοση: (1995)