Preskoči na sadržaj
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Sva polja
Naslov
Autor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Pronađi
Napredno
IMAGING OF LOW-LOAD INDENTATIO...
Citiraj ovo
Pošalji tekstualnu poruku
Pošalji ovo e-mailom
Ispiši
Izvezi zapis
Izvezi u RefWorks
Izvezi u EndNoteWeb
Izvezi u EndNote
Stalna poveznica
IMAGING OF LOW-LOAD INDENTATIONS INTO SI AND GAAS BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
Bibliografski detalji
Glavni autori:
Castell, M
,
Walls, M
,
Howie, A
Format:
Journal article
Izdano:
1992
Primjerci
Opis
Slični predmeti
Prikaz za djelatnike knjižnice
Slični predmeti
Fracture properties of GaAs-AlAs superlattices studied by atomic force microscopy and scanning electron microscopy
od: Castell, M, i dr.
Izdano: (1998)
INDENTATION PLASTICITY OF SINGLE AND MULTIPLE LAYER GAAS-ALAS HETEROSTRUCTURES
od: Castell, M, i dr.
Izdano: (1993)
The indentation response of GaAs-AlAs heterostructures
od: Castell, M, i dr.
Izdano: (1996)
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY OF NANOINDENTATIONS
od: Castell, M, i dr.
Izdano: (1992)
Scanning tunnelling microscopy of epitaxial nanostructures.
od: Marshall, MS, i dr.
Izdano: (2014)