تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
PRECISE DETERMINATION OF THE P...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
PRECISE DETERMINATION OF THE PERIODICITY FOR MO/SI AND W/C METALLIC MULTILAYERS BY ELECTRON AND X-RAY-DIFFRACTION
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Jiang, S
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Hu, A
,
Sikorski, A
التنسيق:
Journal article
منشور في:
1995
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
حسب: Jiang, S, وآخرون
منشور في: (1997)
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
حسب: Jiang, S, وآخرون
منشور في: (1992)
X-Ray Diffraction Technique for Residual Stress Measurement in NiCrMo Alloy Weld Metal
حسب: Vladimir Ivanovitch Monine, وآخرون
منشور في: (2018-01-01)
Wave diffraction by periodic multilayer structures /
حسب: Litvinenko, L. N. (Leonid Nikolaevich), وآخرون
منشور في: (c201)
Investigation of structural and reflective characteristics of short-period Mo/B4C multilayer X-ray mirrors
حسب: Roman Shaposhnikov, وآخرون
منشور في: (2024-03-01)