Jenkins, M., Zhou, Z., Dudarev, S., Sutton, A., & Kirk, M. (2006). Electron microscope weak-beam imaging of stacking fault tetrahedra: Observations and simulations.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Jenkins, M., Z. Zhou, S. Dudarev, A. Sutton, и M. Kirk. Electron Microscope Weak-beam Imaging of Stacking Fault Tetrahedra: Observations and Simulations. 2006.
Цитирование MLA (9-е изд.)Jenkins, M., et al. Electron Microscope Weak-beam Imaging of Stacking Fault Tetrahedra: Observations and Simulations. 2006.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.