Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFEC...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFECTS USING ION CHANNELING
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
King, P
,
Breese, M
,
Wilshaw, P
,
Booker, G
,
Grime, C
,
Watt, F
,
Goringe, M
Médium:
Conference item
Vydáno:
1993
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
CRYSTAL DEFECT IMAGING USING TRANSMISSION ION CHANNELING
Autor: King, P, a další
Vydáno: (1994)
IMAGING OF DEEP DEFECTS USING TRANSMISSION ION CHANNELING
Autor: King, P, a další
Vydáno: (1995)
DISLOCATION IMAGING WITH A SCANNING PROTON MICROPROBE USING CHANNELING SCANNING-TRANSMISSION ION MICROSCOPY (CSTIM)
Autor: King, P, a další
Vydáno: (1993)
TRANSMISSION ION CHANNELING IMAGES OF CRYSTAL DEFECTS
Autor: King, P, a další
Vydáno: (1995)
Defect imaging and channeling studies using channeling scanning transmission ion microscopy
Autor: King, P, a další
Vydáno: (1996)