Neidio i'r cynnwys
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Iaith
Pob Maes
Teitl
Awdur
Pwnc
Rhif Galw
ISBN/ISSN
Tag
Canfod
Uwch
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFEC...
Dyfynnu hwn
Anfonwch hwn fel neges destun
E-bostio hwn
Argraffu
Allforio Cofnod
Allforio i RefWorks
Allforio i EndNoteWeb
Allforio i EndNote
Permanent link
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFECTS USING ION CHANNELING
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awduron:
King, P
,
Breese, M
,
Wilshaw, P
,
Booker, G
,
Grime, C
,
Watt, F
,
Goringe, M
Fformat:
Conference item
Cyhoeddwyd:
1993
Daliadau
Disgrifiad
Eitemau Tebyg
Dangos Staff
Eitemau Tebyg
CRYSTAL DEFECT IMAGING USING TRANSMISSION ION CHANNELING
gan: King, P, et al.
Cyhoeddwyd: (1994)
IMAGING OF DEEP DEFECTS USING TRANSMISSION ION CHANNELING
gan: King, P, et al.
Cyhoeddwyd: (1995)
DISLOCATION IMAGING WITH A SCANNING PROTON MICROPROBE USING CHANNELING SCANNING-TRANSMISSION ION MICROSCOPY (CSTIM)
gan: King, P, et al.
Cyhoeddwyd: (1993)
TRANSMISSION ION CHANNELING IMAGES OF CRYSTAL DEFECTS
gan: King, P, et al.
Cyhoeddwyd: (1995)
Defect imaging and channeling studies using channeling scanning transmission ion microscopy
gan: King, P, et al.
Cyhoeddwyd: (1996)