Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFEC...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
এক্সপোর্ট সম্পূর্ন হয়েছে —
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFECTS USING ION CHANNELING
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
King, P
,
Breese, M
,
Wilshaw, P
,
Booker, G
,
Grime, C
,
Watt, F
,
Goringe, M
Formaat:
Conference item
Gepubliceerd in:
1993
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
CRYSTAL DEFECT IMAGING USING TRANSMISSION ION CHANNELING
door: King, P, et al.
Gepubliceerd in: (1994)
IMAGING OF DEEP DEFECTS USING TRANSMISSION ION CHANNELING
door: King, P, et al.
Gepubliceerd in: (1995)
DISLOCATION IMAGING WITH A SCANNING PROTON MICROPROBE USING CHANNELING SCANNING-TRANSMISSION ION MICROSCOPY (CSTIM)
door: King, P, et al.
Gepubliceerd in: (1993)
TRANSMISSION ION CHANNELING IMAGES OF CRYSTAL DEFECTS
door: King, P, et al.
Gepubliceerd in: (1995)
Defect imaging and channeling studies using channeling scanning transmission ion microscopy
door: King, P, et al.
Gepubliceerd in: (1996)