İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Materyal Türü:
Conference item
Baskı/Yayın Bilgisi:
1993
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Diğer Bilgiler
Özet:
Benzer Materyaller
Quantitative STM imaging of metal surfaces
Yazar:: Clarke, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
Yazar:: Mayne, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
Yazar:: Jones, F, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
Yazar:: Jones, F, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
Yazar:: Howard, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2000)