WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Автори: | Pethica, J, Knall, J, Wilson, J |
---|---|
Формат: | Conference item |
Опубліковано: |
1993
|
Схожі ресурси
Схожі ресурси
-
Quantitative STM imaging of metal surfaces
за авторством: Clarke, A, та інші
Опубліковано: (1996) -
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
за авторством: Mayne, A, та інші
Опубліковано: (1993) -
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
за авторством: Jones, F, та інші
Опубліковано: (1995) -
An STM study of surface structures on WO3(001)
за авторством: Jones, F, та інші
Опубліковано: (1996) -
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
за авторством: Howard, A, та інші
Опубліковано: (2000)