Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Médium:
Conference item
Vydáno:
1993
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
Quantitative STM imaging of metal surfaces
Autor: Clarke, A, a další
Vydáno: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
Autor: Mayne, A, a další
Vydáno: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
Autor: Jones, F, a další
Vydáno: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
Autor: Jones, F, a další
Vydáno: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
Autor: Howard, A, a další
Vydáno: (2000)