Neidio i'r cynnwys
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Iaith
Pob Maes
Teitl
Awdur
Pwnc
Rhif Galw
ISBN/ISSN
Tag
Canfod
Uwch
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Dyfynnu hwn
Anfonwch hwn fel neges destun
E-bostio hwn
Argraffu
Allforio Cofnod
Allforio i RefWorks
Allforio i EndNoteWeb
Allforio i EndNote
Permanent link
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awduron:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Fformat:
Conference item
Cyhoeddwyd:
1993
Daliadau
Disgrifiad
Eitemau Tebyg
Dangos Staff
Eitemau Tebyg
Quantitative STM imaging of metal surfaces
gan: Clarke, A, et al.
Cyhoeddwyd: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
gan: Mayne, A, et al.
Cyhoeddwyd: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
gan: Jones, F, et al.
Cyhoeddwyd: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
gan: Jones, F, et al.
Cyhoeddwyd: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
gan: Howard, A, et al.
Cyhoeddwyd: (2000)