Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Ձևաչափ:
Conference item
Հրապարակվել է:
1993
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նմանատիպ նյութեր
Quantitative STM imaging of metal surfaces
: Clarke, A, և այլն
Հրապարակվել է: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
: Mayne, A, և այլն
Հրապարակվել է: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
: Jones, F, և այլն
Հրապարակվել է: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
: Jones, F, և այլն
Հրապարակվել է: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
: Howard, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2000)