Агуулга руу алгасах
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Хэл сонгох
Бүх талбарууд
Гарчиг
Зохиогч
Сэдэв
Зохиогчийн тэмдэгт
ISBN/ISSN
Шошго
Хайх
Дэлгэрэнгүй
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Үүнийг ишлэх
Үүнийг мессежээр илгээх
Үүнийг цахим шуудангаар илгээх
Хэвлэх
Бүртгэлийг экспортлох
RefWorks руу экспортлох
EndNoteWeb руу экспортлох
EndNote руу экспортлох
Байнгын холбоос
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолчид:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Формат:
Conference item
Хэвлэсэн:
1993
Түр хойшлуулсан зүйлс
Тодорхойлолт
Ижил төстэй зүйлс
Ажилтнуудыг харах
Ижил төстэй зүйлс
Quantitative STM imaging of metal surfaces
-н: Clarke, A, зэрэг
Хэвлэсэн: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
-н: Mayne, A, зэрэг
Хэвлэсэн: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
-н: Jones, F, зэрэг
Хэвлэсэн: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
-н: Jones, F, зэрэг
Хэвлэсэн: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
-н: Howard, A, зэрэг
Хэвлэсэн: (2000)