Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Formaat:
Conference item
Gepubliceerd in:
1993
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
Quantitative STM imaging of metal surfaces
door: Clarke, A, et al.
Gepubliceerd in: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
door: Mayne, A, et al.
Gepubliceerd in: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
door: Jones, F, et al.
Gepubliceerd in: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
door: Jones, F, et al.
Gepubliceerd in: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
door: Howard, A, et al.
Gepubliceerd in: (2000)