Saltar ao contenido
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Todos os campos
Title
Autor
Subject
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Tag
Buscar
Avanzado
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Citar
Text this
Enviar este rexistro por email
Imprimir
Exportar rexistro
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Permanent link
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Detalles Bibliográficos
Main Authors:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Formato:
Conference item
Publicado:
1993
Existencias
Descripción
Títulos similares
Staff View
Títulos similares
Quantitative STM imaging of metal surfaces
por: Clarke, A, et al.
Publicado: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
por: Mayne, A, et al.
Publicado: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
por: Jones, F, et al.
Publicado: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
por: Jones, F, et al.
Publicado: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
por: Howard, A, et al.
Publicado: (2000)