Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Μορφή:
Conference item
Έκδοση:
1991
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
ανά: Ahmed, J, κ.ά.
Έκδοση: (1997)
Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
ανά: Ahmed, J, κ.ά.
Έκδοση: (1999)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
ανά: Czernuszka, J, κ.ά.
Έκδοση: (1991)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
ανά: Czernuszka, J, κ.ά.
Έκδοση: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
ανά: Wilkinson, A, κ.ά.
Έκδοση: (1994)