Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Formatua:
Conference item
Argitaratua:
1991
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
nork: Ahmed, J, et al.
Argitaratua: (1997)
Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
nork: Ahmed, J, et al.
Argitaratua: (1999)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
nork: Czernuszka, J, et al.
Argitaratua: (1991)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
nork: Czernuszka, J, et al.
Argitaratua: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
nork: Wilkinson, A, et al.
Argitaratua: (1994)