Агуулга руу алгасах
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Хэл сонгох
Бүх талбарууд
Гарчиг
Зохиогч
Сэдэв
Зохиогчийн тэмдэгт
ISBN/ISSN
Шошго
Хайх
Дэлгэрэнгүй
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
Үүнийг ишлэх
Үүнийг мессежээр илгээх
Үүнийг цахим шуудангаар илгээх
Хэвлэх
Бүртгэлийг экспортлох
RefWorks руу экспортлох
EndNoteWeb руу экспортлох
EndNote руу экспортлох
Байнгын холбоос
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолчид:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Формат:
Conference item
Хэвлэсэн:
1991
Түр хойшлуулсан зүйлс
Тодорхойлолт
Ижил төстэй зүйлс
Ажилтнуудыг харах
Ижил төстэй зүйлс
Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
-н: Ahmed, J, зэрэг
Хэвлэсэн: (1997)
Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
-н: Ahmed, J, зэрэг
Хэвлэсэн: (1999)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
-н: Czernuszka, J, зэрэг
Хэвлэсэн: (1991)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
-н: Czernuszka, J, зэрэг
Хэвлэсэн: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
-н: Wilkinson, A, зэрэг
Хэвлэсэн: (1994)